Cílem této práce je seznámení se s používanými typy pouzder elektronických součástek (integrovaných obvodů) a s dostupnými testovacími (programovacími) adaptéry. Poté na-vrhnout koncepci univerzálního flexibilního kontaktního adaptéru kompatibilního s detek-torem padělků SENTRY a na základě zpracovaného návrhu zrealizovat funkční vzorek a podrobit jej experimentálnímu testování pro ověření jeho funkčnosti a následně formulovat případné doporučení pro jeho modifikaci. Součástí této práce je také charakteristika mož-ností testování součástek na detektoru padělku SENTRY.
Annotation in English
This thesis was aimed at electronic component package variability study, preferably at inte-grated circuit standard package range. That comprehensive information served for a versa-tile and flexible contact adapter design with the contact interface compatible with the SENTRY Counterfeit IC Detector contact field. That design was to be implemented as a concept example for analytical abilities demonstration. The experience from first testing and all that design process were expected to be embodied in recommendation for other contact adapter variants and /or further development process.
counterfeit, counterfeit detector, integrated circuit, package of the device, adapter for the device, PCB
Length of the covering note
66 s. (64 060)
Language
CZ
Annotation
Cílem této práce je seznámení se s používanými typy pouzder elektronických součástek (integrovaných obvodů) a s dostupnými testovacími (programovacími) adaptéry. Poté na-vrhnout koncepci univerzálního flexibilního kontaktního adaptéru kompatibilního s detek-torem padělků SENTRY a na základě zpracovaného návrhu zrealizovat funkční vzorek a podrobit jej experimentálnímu testování pro ověření jeho funkčnosti a následně formulovat případné doporučení pro jeho modifikaci. Součástí této práce je také charakteristika mož-ností testování součástek na detektoru padělku SENTRY.
Annotation in English
This thesis was aimed at electronic component package variability study, preferably at inte-grated circuit standard package range. That comprehensive information served for a versa-tile and flexible contact adapter design with the contact interface compatible with the SENTRY Counterfeit IC Detector contact field. That design was to be implemented as a concept example for analytical abilities demonstration. The experience from first testing and all that design process were expected to be embodied in recommendation for other contact adapter variants and /or further development process.
counterfeit, counterfeit detector, integrated circuit, package of the device, adapter for the device, PCB
Research Plan
Seznamte se s podmínkami měření na detektoru Sentry Counterfeit IC Detektor firmy ABI Electronics Ltd. a dostupným sortimentem příslušných kontaktních adaptérů.
Prostudujte varianty pouzder standardních elektronických součástek s důrazem na rozměrové, tvarové a kontaktní parametry jejich vývodů.
Navrhněte koncepci flexibilního kontaktního adaptéru kompatibilního s detektorem Sentry pro analýzu širšího sortimentu součástkových pouzder. Pro řešení předpokládejte využití standardních testovacích patic.
Realizujte funkční vzorek varianty navržené koncepce adaptéru a proveďte na něm experimentální analýzu příslušných vzorků součástek.
Diskutujte výsledky praktického ověření návrhu adaptéru a formulujte doporučení pro případnou modifikaci a realizaci dalších variant adaptéru.
Jako součást řešení zpracujte v nezbytném rozsahu a formě technickou dokumentaci, umožňující opakované zhotovení vzorku nebo navázání dalších vývojových prací.
Research Plan
Seznamte se s podmínkami měření na detektoru Sentry Counterfeit IC Detektor firmy ABI Electronics Ltd. a dostupným sortimentem příslušných kontaktních adaptérů.
Prostudujte varianty pouzder standardních elektronických součástek s důrazem na rozměrové, tvarové a kontaktní parametry jejich vývodů.
Navrhněte koncepci flexibilního kontaktního adaptéru kompatibilního s detektorem Sentry pro analýzu širšího sortimentu součástkových pouzder. Pro řešení předpokládejte využití standardních testovacích patic.
Realizujte funkční vzorek varianty navržené koncepce adaptéru a proveďte na něm experimentální analýzu příslušných vzorků součástek.
Diskutujte výsledky praktického ověření návrhu adaptéru a formulujte doporučení pro případnou modifikaci a realizaci dalších variant adaptéru.
Jako součást řešení zpracujte v nezbytném rozsahu a formě technickou dokumentaci, umožňující opakované zhotovení vzorku nebo navázání dalších vývojových prací.
Recommended resources
CRAWFORD, M. et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010.
ABI Electronics Ltd., Company Literature to Sentry Counterfeit Detector. 2009-2011.
HLAVIĆKA, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
MICZO, A.: Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003.
JHA, N. K., Gupta, S.: Testing of Digital Systems. Cambridge Digital Systems. Cambridge University Press, 2003.
BUSHNELL, M.L., Agrawal, V.D.: Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed- Signal VLSI Circuits. Springer, 2004.
MARTIN, P.L.: Electronic Failure Analysis Handbook. McGraw-Hill, 1999.
HARPER, C.A.: Electronic Materials And Processes Handbook. McGraw-Hill, 2004.
Recommended resources
CRAWFORD, M. et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010.
ABI Electronics Ltd., Company Literature to Sentry Counterfeit Detector. 2009-2011.
HLAVIĆKA, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
MICZO, A.: Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003.
JHA, N. K., Gupta, S.: Testing of Digital Systems. Cambridge Digital Systems. Cambridge University Press, 2003.
BUSHNELL, M.L., Agrawal, V.D.: Essentials of Electronic Testing for Digital Memory and Mixed- Signal VLSI Circuits. Springer, 2004.
MARTIN, P.L.: Electronic Failure Analysis Handbook. McGraw-Hill, 1999.
HARPER, C.A.: Electronic Materials And Processes Handbook. McGraw-Hill, 2004.
