Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.
Annotation in English
This work deals with electronic memories and their testing. It is composed from two parts. The first part includes the theory specialized on the computer memory and the second part deals with hardware and software computer memory testing. The work describes the history, present state and the future development trends. The development problems are also mentioned. As an example of testing methods, some test patterns used for memory testing are attached. Work mentions the survey of accessible benchmark arrangement for computing memory testing and most widely used benchmark software equipment.
Keywords
operační paměť, paměťový modul, vyrovnávací paměť, čipset, paměťová média, testovací vzorky, testovací zařízení, testovací software
Keywords in English
main storage, memory module, buffer, chipset, memory media, test pattern, tester, benchmark software
Length of the covering note
73 s.
Language
CZ
Annotation
Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.
Annotation in English
This work deals with electronic memories and their testing. It is composed from two parts. The first part includes the theory specialized on the computer memory and the second part deals with hardware and software computer memory testing. The work describes the history, present state and the future development trends. The development problems are also mentioned. As an example of testing methods, some test patterns used for memory testing are attached. Work mentions the survey of accessible benchmark arrangement for computing memory testing and most widely used benchmark software equipment.
Keywords
operační paměť, paměťový modul, vyrovnávací paměť, čipset, paměťová média, testovací vzorky, testovací zařízení, testovací software
Keywords in English
main storage, memory module, buffer, chipset, memory media, test pattern, tester, benchmark software
Research Plan
1. Prostudujte předložené podkladové materiály a doporučenou literaturu pro orientaci v daném tématu.
2. Uspořádejte a zpracujte přidělenou část materiálů ve formátu vhodném pro běžné typy prezentací.
3. Navrhněte metodu doplňování a třídění podkladových materiálů.
4. Realizace práce předložte na CD ROM.
Research Plan
1. Prostudujte předložené podkladové materiály a doporučenou literaturu pro orientaci v daném tématu.
2. Uspořádejte a zpracujte přidělenou část materiálů ve formátu vhodném pro běžné typy prezentací.
3. Navrhněte metodu doplňování a třídění podkladových materiálů.
4. Realizace práce předložte na CD ROM.
Recommended resources
1. Navrátil, Z., Tobola, P.: Diagnostika číslicových systémů. Skripta VUT v Brně, 1991.
2. Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
3. Focus on In-Circuit Testing. Firemní literatura GenRad, 1998.
4. Maunder, C.: The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp. 1992.
Recommended resources
1. Navrátil, Z., Tobola, P.: Diagnostika číslicových systémů. Skripta VUT v Brně, 1991.
2. Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
3. Focus on In-Circuit Testing. Firemní literatura GenRad, 1998.
4. Maunder, C.: The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp. 1992.
