Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.
Anotace v angličtině
This work deals with electronic memories and their testing. It is composed from two parts. The first part includes the theory specialized on the computer memory and the second part deals with hardware and software computer memory testing. The work describes the history, present state and the future development trends. The development problems are also mentioned. As an example of testing methods, some test patterns used for memory testing are attached. Work mentions the survey of accessible benchmark arrangement for computing memory testing and most widely used benchmark software equipment.
Klíčová slova
operační paměť, paměťový modul, vyrovnávací paměť, čipset, paměťová média, testovací vzorky, testovací zařízení, testovací software
Klíčová slova v angličtině
main storage, memory module, buffer, chipset, memory media, test pattern, tester, benchmark software
Rozsah průvodní práce
73 s.
Jazyk
CZ
Anotace
Tato práce se věnuje operačním pamětem a jejich testování. Skládá se ze dvou částí. První část obsahuje teorii zaměřenou na operační paměti a druhá část se zabývá hardwarovým a softwarovým testováním počítačových pamětí. V práci je zahrnuta historie, současnost, budoucí vývoj a problémy při vývoji nejpoužívanějších operačních pamětí. Dále také obsahuje konkrétní testovací vzorky, používané při testování pamětí. Práce je zakončena přehledem dostupných testovacích zařízení pro testování operačních pamětí a nejpoužívanějším testovacím programovým vybavením.
Anotace v angličtině
This work deals with electronic memories and their testing. It is composed from two parts. The first part includes the theory specialized on the computer memory and the second part deals with hardware and software computer memory testing. The work describes the history, present state and the future development trends. The development problems are also mentioned. As an example of testing methods, some test patterns used for memory testing are attached. Work mentions the survey of accessible benchmark arrangement for computing memory testing and most widely used benchmark software equipment.
Klíčová slova
operační paměť, paměťový modul, vyrovnávací paměť, čipset, paměťová média, testovací vzorky, testovací zařízení, testovací software
Klíčová slova v angličtině
main storage, memory module, buffer, chipset, memory media, test pattern, tester, benchmark software
Zásady pro vypracování
1. Prostudujte předložené podkladové materiály a doporučenou literaturu pro orientaci v daném tématu.
2. Uspořádejte a zpracujte přidělenou část materiálů ve formátu vhodném pro běžné typy prezentací.
3. Navrhněte metodu doplňování a třídění podkladových materiálů.
4. Realizace práce předložte na CD ROM.
Zásady pro vypracování
1. Prostudujte předložené podkladové materiály a doporučenou literaturu pro orientaci v daném tématu.
2. Uspořádejte a zpracujte přidělenou část materiálů ve formátu vhodném pro běžné typy prezentací.
3. Navrhněte metodu doplňování a třídění podkladových materiálů.
4. Realizace práce předložte na CD ROM.
Seznam doporučené literatury
1. Navrátil, Z., Tobola, P.: Diagnostika číslicových systémů. Skripta VUT v Brně, 1991.
2. Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
3. Focus on In-Circuit Testing. Firemní literatura GenRad, 1998.
4. Maunder, C.: The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp. 1992.
Seznam doporučené literatury
1. Navrátil, Z., Tobola, P.: Diagnostika číslicových systémů. Skripta VUT v Brně, 1991.
2. Hlavička, J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT Praha, 1998.
3. Focus on In-Circuit Testing. Firemní literatura GenRad, 1998.
4. Maunder, C.: The Board Designer´s Guide to Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publ. Comp. 1992.
Přílohy volně vložené
1 CD ROM
Přílohy vázané v práci
-
Převzato z knihovny
Ano
Plný text práce
Přílohy
Posudek(y) oponenta
Hodnocení vedoucího
Záznam průběhu obhajoby
Diplomant prezentoval výsledky, kterých dosáhl při řešení své bakalářské práce. Součástí prezentace nebyla praktická ukázka. Po seznámení s posudky vedoucího a oponenta byly položeny tyto dotazy:
1. Zkoušel jste některý freewarový testovací program ověřit na konkrétní paměti? Mgr. Adámek
2. V jakém časovém horizontu by se měly objevit na trhu disku s kapacitou 25GB až 100GB? Mgr. Adámek
3. Co považujete za přínos v předkládané práci? Ing. Sysel
Diplomant zodpověděl všechny položené dotazy. Poté byla obhajoba bakalářské práce ukončena.