Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření.
Annotation in English
This dissertation is focussing on clarification of authenticity of electronic components, especially on material composition. The aim was to sort out if the material composition of casing of non-original parts is identical with original ones. This was examined using Raman spectroscopy method. Theoretical part of dissertation is examining occurrence of non-original complements. New methods used in detecting counterfeits are also introduced. Measured Raman spectroscopy of selected samples is described in practical part. Development of experimental measurement is mentioned in the chapter evaluation and discussion which is appraising progress of measurement.
Raman spectroscopy, counterfeits of electronic components, non-original parts.
Length of the covering note
72 s., 1 s. (72 644)
Language
CZ
Annotation
Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření.
Annotation in English
This dissertation is focussing on clarification of authenticity of electronic components, especially on material composition. The aim was to sort out if the material composition of casing of non-original parts is identical with original ones. This was examined using Raman spectroscopy method. Theoretical part of dissertation is examining occurrence of non-original complements. New methods used in detecting counterfeits are also introduced. Measured Raman spectroscopy of selected samples is described in practical part. Development of experimental measurement is mentioned in the chapter evaluation and discussion which is appraising progress of measurement.
Raman spectroscopy, counterfeits of electronic components, non-original parts.
Research Plan
Z dostupných materiálů prostudujte problematiku rozpoznatelných znaků nepůvodních elektronických součástek a metody jejich zjišťování.
Prostudujte principy a aplikační možnosti Ramanovy spektroskopie pro různé materiály.
Na vybraných vzorcích součástek a materiálů se pokuste experimentálně nalézt podmínky pro jejich analýzu Ramanovou spektroskopií.
Diskutujte získané experimentální výsledky, formulujte závěr a navrhněte možné postupy pro další práce zaměřené na možnosti využití Ramanovy spektroskopie při rozpoznávání některých znaků nepůvodních součástek a materiálů.
Research Plan
Z dostupných materiálů prostudujte problematiku rozpoznatelných znaků nepůvodních elektronických součástek a metody jejich zjišťování.
Prostudujte principy a aplikační možnosti Ramanovy spektroskopie pro různé materiály.
Na vybraných vzorcích součástek a materiálů se pokuste experimentálně nalézt podmínky pro jejich analýzu Ramanovou spektroskopií.
Diskutujte získané experimentální výsledky, formulujte závěr a navrhněte možné postupy pro další práce zaměřené na možnosti využití Ramanovy spektroskopie při rozpoznávání některých znaků nepůvodních součástek a materiálů.
Recommended resources
M. Crawford, et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010. http://bis.doc.gov/defenseindustrialbaseprograms/
HARPER, Charles A. Electronic materials and processes handbook. 3rd ed. New York: McGraw-Hill, 2003. ISBN 00-714-0214-4.
Detection of Counterfeit Electronic Components. American Electronic Resource[online]. ? 2010 [cit. 2012-02-01]. Dostupné z: http://www.aeri.com/detection-of-counterfeit.asp
S. Schoppe, G. Robertson, Screening For Counterfeit Electronic Components. In: Process Sciences Inc., 2010. http://www.smtnet.com/library/files/upload/PSI-Counterfeits-Screening.pdf
BERNATH, Peter F. Spectra of atoms and molecules. 2nd ed. New York: Oxford University Press, 2005. ISBN ISBN 978-0-19-517759-6.
SIESLER, H a K HOLLAND-MORITZ. Infrared and Raman spectroscopy of polymers. New York: M. Dekker, c1980, 389 s. ISBN 08-247-6935-X.
HALLIDAY, David, Robert RESNICK a Jearl WALKER. Fyzika: vysokoškolská učebnice obecné fyziky. 1. české vyd., 2. dotisk. V Brně: Prometheus, 2006, s. 890-920. ISBN 8021418680.
Journal of Raman spectroscopy. Chichester: John Wiley and sons, 1973-. ISSN 1097-4555.
Recommended resources
M. Crawford, et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010. http://bis.doc.gov/defenseindustrialbaseprograms/
HARPER, Charles A. Electronic materials and processes handbook. 3rd ed. New York: McGraw-Hill, 2003. ISBN 00-714-0214-4.
Detection of Counterfeit Electronic Components. American Electronic Resource[online]. ? 2010 [cit. 2012-02-01]. Dostupné z: http://www.aeri.com/detection-of-counterfeit.asp
S. Schoppe, G. Robertson, Screening For Counterfeit Electronic Components. In: Process Sciences Inc., 2010. http://www.smtnet.com/library/files/upload/PSI-Counterfeits-Screening.pdf
BERNATH, Peter F. Spectra of atoms and molecules. 2nd ed. New York: Oxford University Press, 2005. ISBN ISBN 978-0-19-517759-6.
SIESLER, H a K HOLLAND-MORITZ. Infrared and Raman spectroscopy of polymers. New York: M. Dekker, c1980, 389 s. ISBN 08-247-6935-X.
HALLIDAY, David, Robert RESNICK a Jearl WALKER. Fyzika: vysokoškolská učebnice obecné fyziky. 1. české vyd., 2. dotisk. V Brně: Prometheus, 2006, s. 890-920. ISBN 8021418680.
Journal of Raman spectroscopy. Chichester: John Wiley and sons, 1973-. ISSN 1097-4555.
