Práce se zabývá problematikou měření tepelných a 1/f šumů prováděných na elektrotechnických pasivních komponentách. V teoretické části práce se autor zaměřil na literární rešerši na téma šumů a náhodných fluktuací, které generují elektrotechnické pasivní komponenty. V praktické části je navrţena metodika měření šumů na pasivních komponentách. Měření tepelného a 1/f šumu je provedeno a naměřené hodnoty jsou prezentovány ve formě grafu a diskutovány. Poslední část práce se zabývá moţnostmi aplikace měření šumů v oblasti průmyslu prodávajícího elektrotechnické pasivní komponenty
Anotace v angličtině
Goal of this diploma work is to deal with theme of measurement of thermal and 1/f noises performed on passive electrotechnic components. Theoretical part is aimed onto background research of noises nad random fluctuations which are beány generated by passive elektrotechnic components. A method of measurement of noises on passive components has been suggested in practical part of this diploma thesis. Measurements has been performed and measured data are presented in form of graphs and are beány discussed. The last part is aimed on to possible applications of noise measurements within electrotechnic passive components industry.
Práce se zabývá problematikou měření tepelných a 1/f šumů prováděných na elektrotechnických pasivních komponentách. V teoretické části práce se autor zaměřil na literární rešerši na téma šumů a náhodných fluktuací, které generují elektrotechnické pasivní komponenty. V praktické části je navrţena metodika měření šumů na pasivních komponentách. Měření tepelného a 1/f šumu je provedeno a naměřené hodnoty jsou prezentovány ve formě grafu a diskutovány. Poslední část práce se zabývá moţnostmi aplikace měření šumů v oblasti průmyslu prodávajícího elektrotechnické pasivní komponenty
Anotace v angličtině
Goal of this diploma work is to deal with theme of measurement of thermal and 1/f noises performed on passive electrotechnic components. Theoretical part is aimed onto background research of noises nad random fluctuations which are beány generated by passive elektrotechnic components. A method of measurement of noises on passive components has been suggested in practical part of this diploma thesis. Measurements has been performed and measured data are presented in form of graphs and are beány discussed. The last part is aimed on to possible applications of noise measurements within electrotechnic passive components industry.
Proveďte literární rešerši zadané problematiky.
Seznamte se s přístrojovým parkem na FAI UTB určeným pro měření šumů.
Navrhněte metodiku měření požadovaných závislostí a vybraných typů šumů.
Sestavte laboratorní pracoviště a proveďte navrhnutá měření.
Analyzujte naměřená data a navrhněte postup dalších prací.
Pokuste se o nalezení souvislosti naměřených veličin s požadavky průmyslové diagnostiky součástek.
Zásady pro vypracování
Proveďte literární rešerši zadané problematiky.
Seznamte se s přístrojovým parkem na FAI UTB určeným pro měření šumů.
Navrhněte metodiku měření požadovaných závislostí a vybraných typů šumů.
Sestavte laboratorní pracoviště a proveďte navrhnutá měření.
Analyzujte naměřená data a navrhněte postup dalších prací.
Pokuste se o nalezení souvislosti naměřených veličin s požadavky průmyslové diagnostiky součástek.
Seznam doporučené literatury
C.A. Harper, Passive Electronic Components Handbook, McGraw-Hill, 2nd Edition, 1997, 142 s.
C.A. Lee and G.C. Dalman, Microwave Devices, Circuits and their Interaction, Wiley-Interscience Publication, New York, 1994, 33 s.
N. Coda and J. Selvaggi, Design Considerations for High Frequency Chip Capacitors, IEEE Trans. On Parts, Hybrids and Packaging, Vol.PHP-12, No.3, , 1976, s. 206-212
A.J. Baden Fuller, Microwaves, Pergamon Press, 2nd Edition, UK, , 1988. 311 s.
Agilent High-Frequency Structure Simulator 5.6 - User’s Guide, Agilent Technologies - 85180-90194, , September 2000. s. A1-A3
25 th Anniversary Edition: Stientific and Engineering Instruments. U.S.A.: Stanford Research Systems, Inc., 2005.212 s.
Seznam doporučené literatury
C.A. Harper, Passive Electronic Components Handbook, McGraw-Hill, 2nd Edition, 1997, 142 s.
C.A. Lee and G.C. Dalman, Microwave Devices, Circuits and their Interaction, Wiley-Interscience Publication, New York, 1994, 33 s.
N. Coda and J. Selvaggi, Design Considerations for High Frequency Chip Capacitors, IEEE Trans. On Parts, Hybrids and Packaging, Vol.PHP-12, No.3, , 1976, s. 206-212
A.J. Baden Fuller, Microwaves, Pergamon Press, 2nd Edition, UK, , 1988. 311 s.
Agilent High-Frequency Structure Simulator 5.6 - User’s Guide, Agilent Technologies - 85180-90194, , September 2000. s. A1-A3
25 th Anniversary Edition: Stientific and Engineering Instruments. U.S.A.: Stanford Research Systems, Inc., 2005.212 s.
Přílohy volně vložené
-
Přílohy vázané v práci
grafy, schémata, tabulky
Převzato z knihovny
Ne
Plný text práce
Přílohy
Posudek(y) oponenta
Hodnocení vedoucího
Záznam průběhu obhajoby
Student seznámil komisi se svou prací.
Součástí prezentace nebyla praktická ukázka.
Byly přečteny posudky vedoucího práce a oponenta.
Oponent: Proč jste neprovedl měření šumu při odpojené součástky určené k testování
V jakých součástkách se vyskytuje výstřelový šum?
Komise měla tyto dotazy:
Vašek, L.: Proč nemáte v práci číslovány stránky?
Číslování rovnice není dle normy, proč?
Práce je v češtině, proč jsou některé nadpisy v angličtině?
Jak probíhá vlastní měření testované součástky?
Student zodpověděl všechny dotazy komise.