Bakalářská práce pojednává o rizicích spojených s paděláním elektronických součástek a o důsledcích spojených s jejich průnikem na trh. Dále jsou zde naznačeny metody nejčastěji používané pro odhalování padělaných součástek od úplně základních, až po ty, které využívají pokročilých technologií. Jednotlivé postupy jsou rozděleny dle fyzikálního principu, na kterém jsou založeny. V rámci praktické části práce bylo provedeno testování vybraných vzorků součástek metodou porovnávání volt-ampérových charakteristik.
Annotation in English
This bachelor thesis discusses risks closely connected with electronic components counterfeiting, and consequences linked with their penetration into the global market. Methods used for counterfeit detection, from the basic ones to those using advanced technology, are specified and sorted according to the physical principle that they are based on. Within the scope of the thesis practical part, the test measurement and analysis of component samples was done using the current-voltage characteristics comparison method.
Bakalářská práce pojednává o rizicích spojených s paděláním elektronických součástek a o důsledcích spojených s jejich průnikem na trh. Dále jsou zde naznačeny metody nejčastěji používané pro odhalování padělaných součástek od úplně základních, až po ty, které využívají pokročilých technologií. Jednotlivé postupy jsou rozděleny dle fyzikálního principu, na kterém jsou založeny. V rámci praktické části práce bylo provedeno testování vybraných vzorků součástek metodou porovnávání volt-ampérových charakteristik.
Annotation in English
This bachelor thesis discusses risks closely connected with electronic components counterfeiting, and consequences linked with their penetration into the global market. Methods used for counterfeit detection, from the basic ones to those using advanced technology, are specified and sorted according to the physical principle that they are based on. Within the scope of the thesis practical part, the test measurement and analysis of component samples was done using the current-voltage characteristics comparison method.
Z dostupných materiálů prostudujte problematiku bezpečnostních a ekonomických rizik průniku nepůvodních součástek do sestav výrobků v elektronice.
Shromážděte materiály a odkazy k aktuálnímu stavu znalostí o variantách nepůvodních elektronických součástek a metodách použitelných k jejich rozpoznání v tuzemsku i v zahraničí.
Zhodnoťte jednotlivé metody z hlediska technické a ekonomické náročnosti a vyberte zvlášť metody vhodné pro vybavení specializované laboratoře a zvlášť metody vhodné pro běžné uživatele součástek, tedy výrobce a dodavatele.
Získané materiály zpracujte do přehledné studie o aktuálním stavu v dané oblasti.
Studii doplňte výčtem podstatných skutečností ve formě prezentace.
Proveďte zkušební vyhodnocení vybraného vzorku součástek na detektoru padělků Sentry pomocí voltampérových charakteristik a výsledky zahrňte do prezentace.
Research Plan
Z dostupných materiálů prostudujte problematiku bezpečnostních a ekonomických rizik průniku nepůvodních součástek do sestav výrobků v elektronice.
Shromážděte materiály a odkazy k aktuálnímu stavu znalostí o variantách nepůvodních elektronických součástek a metodách použitelných k jejich rozpoznání v tuzemsku i v zahraničí.
Zhodnoťte jednotlivé metody z hlediska technické a ekonomické náročnosti a vyberte zvlášť metody vhodné pro vybavení specializované laboratoře a zvlášť metody vhodné pro běžné uživatele součástek, tedy výrobce a dodavatele.
Získané materiály zpracujte do přehledné studie o aktuálním stavu v dané oblasti.
Studii doplňte výčtem podstatných skutečností ve formě prezentace.
Proveďte zkušební vyhodnocení vybraného vzorku součástek na detektoru padělků Sentry pomocí voltampérových charakteristik a výsledky zahrňte do prezentace.
Recommended resources
M. Crawford, et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010.
Martin, P.L.: Electronic Failure Analysis Handbook. McGraw-Hill, 1999.
Harper, C.A.: Electronic Materials And Processes Handbook. McGraw-Hill, 2004.
ABI Electronics Ltd., Company Literature to Sentry Counterfeit Detector. 2009-2011.
Recommended resources
M. Crawford, et al., Defense Industrial Base Assesment. In: Counterfeit Electronics, Report of U.S. Department of Commerce, Bureau of Industry and Security, Office of Technology Evaluation, January 2010.
Martin, P.L.: Electronic Failure Analysis Handbook. McGraw-Hill, 1999.
Harper, C.A.: Electronic Materials And Processes Handbook. McGraw-Hill, 2004.
ABI Electronics Ltd., Company Literature to Sentry Counterfeit Detector. 2009-2011.
