Browse IS/STAG - Portál UTB

Skip to page content
Website UTB
Portal title page UTB
Anonymous user Login Česky
Browse IS/STAG
Login Česky
  • Welcome
  • Browse IS/STAG
  • Applicant
  • Graduate
  • Web services
  • ECTS
  • User Info
Welcome
Browse IS/STAG
Information for applicantsElectronic applicationECTS arrivals
Getting startedAlumni ClubAbsolvent - website
Web services
ECTS
User Info

1st level navigation

  • Welcome
  • Browse IS/STAG
  • Applicant
  • Graduate
  • Web services
  • ECTS
  • User Info
User disconnected from the portal due to long time of inactivity.
Please, click this link to log back in.
(Sessions are disconnected after 240 minutes of inactivity. Note that mobile devices may get disconnected even sooner).

Prohlížení IS/STAG (S025)

Help

Main menu for Browse IS/STAG

  • Programmes and specializations.
  • Courses
  • Departments
  • Lecturers
  • Students
  • Examination dates
  • Timetable events
  • Theses, selected item
  • Pre-regist. study groups
  • Rooms
  • Rooms – all year
  • Free rooms – Semester
  • Free rooms – Year
  • Capstone project
  • Times overlap
  •  
  • Title page
  • Calendar
  • Help

Search for a Thesis

Print/export:  Bookmark this link in your browser so that you may quickly load this IS/STAG page in the future.
Only logged-in user will see student personal numbers.

Dates found, count: 1

Search result paging

Found 1 records Print Export to xls List URL
  Surname Name Title Thesis status   Supervisors Reviewers Type of thesis Date of def. Title
Student Type of thesis - - - - - - - - - -
Item shown in detail JANÍK Includes the selected person into the timetable overlap calculation. Petr Station to demonstrate the procedures for determining the reliability of electronic components and systems Station to demonstrate the procedures for determining the reliability of electronic components and systems Thesis finished and defended successfully (DUO).   Neumann Petr Velísek Vladimír Master's thesis 1245016800000 15.06.2009 Station to demonstrate the procedures for determining the reliability of electronic components and systems Thesis finished and defended successfully (DUO).
Petr JANÍK Master's thesis 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX 0XX

Thesis info Pracoviště pro demonstraci postupů při určování spolehlivosti elektronických součástek a systémů

  • Basic data
The document you are accessing is protected by copyright law. Unauthorised use may lead to criminal sanctions.
Name JANÍK Petr Includes the selected person into the timetable overlap calculation.
Acad. Yr. 2008/2009
Assigning department UAI
Date of defence Jun 15, 2009
Type of thesis Master's thesis
Thesis status Thesis finished and defended successfully (DUO). Thesis finished and defended successfully (DUO).
Completeness of mandatory entries - The following mandatory fields are not filled in for this Thesis.: Title in English
Main topic Pracoviště pro demonstraci postupů při určování spolehlivosti elektronických součástek a systémů
Main topic in English Station to demonstrate the procedures for determining the reliability of electronic components and systems
Title according to student Pracoviště pro demonstraci postupů při určování spolehlivosti elektronických součástek a systémů
English title as given by the student -
Parallel name -
Subtitle -
Thesis supervisor Neumann Petr, Ing. Ph.D.
External examiner Velísek Vladimír, Ing.
Annotation Tato práce se zabývá teorií spolehlivosti elektronických součástek. První část se zaměřuje na teoretický rozbor základních pojmů teorie spolehlivosti a dále na podrobný popis rozdělení zkoušek pro testování elektronických součástek dle sledovaných vlastností. V jejím závěru jsou uvedeny metody ke zvýšení spolehlivosti elektronických zařízení. Druhá praktická část obsahuje popis vybraného druhu součástky zvolené pro modelovou úlohu. Následuje představení navrhovaného systému pro laboratoře UTB ve Zlíně a popis jednotlivých jeho částí. V posledním bodě je názorně vypracována modelová úloha pro určení testu životnosti vybraného druhu elektronické součástky.
Annotation in English This work deals with theories of electronic components. The first part focuses on theoretical analysis of basic concepts of reliability theory and the detailed description of the distribution of tests for testing electronic devices according to the monitored characteristics. In its conclusions, there are set out methods to increase the reliability of electronic equipments. The second part contains a practical description of the selected type of components chosen for the role model. Here is a presentation of the proposed system for UTB laboratories in Zlin and the description of individual parts. The last point is illustrated by the role model developed for determining the test life of the selected type of electronic components.
Keywords spolehlivost, test životnosti, zkouška, komponent
Keywords in English reliability, life test, test, component
Length of the covering note 89 s. , 5 s. obr. příloh.
Language CZ
Annotation
Tato práce se zabývá teorií spolehlivosti elektronických součástek. První část se zaměřuje na teoretický rozbor základních pojmů teorie spolehlivosti a dále na podrobný popis rozdělení zkoušek pro testování elektronických součástek dle sledovaných vlastností. V jejím závěru jsou uvedeny metody ke zvýšení spolehlivosti elektronických zařízení. Druhá praktická část obsahuje popis vybraného druhu součástky zvolené pro modelovou úlohu. Následuje představení navrhovaného systému pro laboratoře UTB ve Zlíně a popis jednotlivých jeho částí. V posledním bodě je názorně vypracována modelová úloha pro určení testu životnosti vybraného druhu elektronické součástky.
Annotation in English
This work deals with theories of electronic components. The first part focuses on theoretical analysis of basic concepts of reliability theory and the detailed description of the distribution of tests for testing electronic devices according to the monitored characteristics. In its conclusions, there are set out methods to increase the reliability of electronic equipments. The second part contains a practical description of the selected type of components chosen for the role model. Here is a presentation of the proposed system for UTB laboratories in Zlin and the description of individual parts. The last point is illustrated by the role model developed for determining the test life of the selected type of electronic components.
Keywords
spolehlivost, test životnosti, zkouška, komponent
Keywords in English
reliability, life test, test, component
Research Plan
  1. Prostudujte základy teorie spolehlivosti a metody určování spolehlivosti součástek a vyšších sestav v elektronice.
  2. Zpracujte ilustrační přehled metod a postupů při určování spolehlivosti elektronických součástek v praxi.
  3. Navrhněte koncepci nezbytných podkladů a prostředků pro výuku principů určování spolehlivosti v rámci cvičení pro předmět Diagnostika v elektronice.
  4. Zpracujte modelovou úlohu pro demonstraci příkladu metod a postupů při určování parametrů spolehlivosti součástek a systémů.
  5. Zpracujte příručku pro realizaci navržené demonstrační úlohy a doprovodnou prezentaci v programu Per Point.

Research Plan
  1. Prostudujte základy teorie spolehlivosti a metody určování spolehlivosti součástek a vyšších sestav v elektronice.
  2. Zpracujte ilustrační přehled metod a postupů při určování spolehlivosti elektronických součástek v praxi.
  3. Navrhněte koncepci nezbytných podkladů a prostředků pro výuku principů určování spolehlivosti v rámci cvičení pro předmět Diagnostika v elektronice.
  4. Zpracujte modelovou úlohu pro demonstraci příkladu metod a postupů při určování parametrů spolehlivosti součástek a systémů.
  5. Zpracujte příručku pro realizaci navržené demonstrační úlohy a doprovodnou prezentaci v programu Per Point.

Recommended resources
  1. Briš,R.: Inovační metody pro ocenění spolehlivosti prvků a systémů. VŠB-TU Ostrava, 2007. ISBN 978-80-248-1596-1.
  2. Miczo, A.:Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003. ISBN 0-471-43995-9.
  3. Jha, N. K., Gupta, S.: Testing of Digital Systems. Cambridge University Preses, 2003. ISBN 0-521-77356-3.
  4. Bushnell, M.L., Agrawal, V.D.: Essentials of Electronic testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer, 2004. ISBN 0-7923-7991-8.

Recommended resources
  1. Briš,R.: Inovační metody pro ocenění spolehlivosti prvků a systémů. VŠB-TU Ostrava, 2007. ISBN 978-80-248-1596-1.
  2. Miczo, A.:Digital Logic Testing and Simulation. John Wiley & Sons, 2003. ISBN 0-471-43995-9.
  3. Jha, N. K., Gupta, S.: Testing of Digital Systems. Cambridge University Preses, 2003. ISBN 0-521-77356-3.
  4. Bushnell, M.L., Agrawal, V.D.: Essentials of Electronic testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits. Springer, 2004. ISBN 0-7923-7991-8.

Týká se praxe No
Enclosed appendices -
Appendices bound in thesis -
Taken from the library No
Full text of the thesis
Appendices
Reviewer's report
Supervisor's report
Defence procedure record file