|
Vyučující
|
-
Mráček Aleš, prof. Mgr. Ph.D.
-
Minařík Antonín, doc. Ing. Ph.D.
-
Kadlečková Markéta, Ing. Ph.D.
-
Kocourková Karolína, Ing. Ph.D.
-
Mikulka Filip, Ing.
|
|
Obsah předmětu
|
- Základní vlastnosti zobrazení ve světelném mikroskopu (optické schéma, rozlišovací schopnost, zvětšení, hloubka ostrosti). - Konstrukční části světelného mikroskopu a jejich vlastnosti. - Zobrazovací metody: klasický mikroskop, stereomikroskop, světlé a temné pole, fázový kontrast. - Zobrazovací metody: interferenční, polarizační, ultrafialová, infračervená a fluorescenční mikroskopie. Konfokální mikroskop. - Rozdělení jevů při interakci elektronů s pevnou látkou. Základní principy elektronové optiky, elektrostatické a magnetické čočky a jejich aberace. Konstrukce a princip činnosti rastrovacího elektronového mikroskopu. Parametry zobrazení (rozlišovací schopnost, hloubka ostrosti a kontrast). - Konstrukce a princip činnosti transmisního elektronového mikroskopu. Parametry zobrazení (rozlišovací schopnost, hloubka ostrosti a kontrast). - Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii (fixace, napařování, mikrotom, metoda, freeze-fracture), analytická elektronová mikroskopie. - Mikroskopie skenující sondou, základní principy těchto metod, možnosti využití, přednosti a nevýhody. - STM (skenovací tunelovací mikroskopie), AFM (mikroskopie atomárních sil). - MFM (mikroskopie magnetické síly), SNOM (mikroskopie v blízkém poli) atd. Uspořádání a technický popis těchto mikroskopů, detektory, sondy, pohybové elementy, možná pracovní prostředí, rozlišovací schopnosti atd. Interpretace výsledků, chyby a artefakty měření, zpracování obrazu. Praktické aplikace a využití vybraných technik SPM při charakterizaci povrchu a struktury materiálů.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Přednášení, Laborování
- Příprava na zkoušku
- 90 hodin za semestr
|
| Předpoklady |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| Znalosti fyziky. |
| Znalosti fyziky. |
| Výsledky učení |
|---|
| popsat části optického mikroskopu a jejich funkci |
| popsat části optického mikroskopu a jejich funkci |
| zdůvodnit použití zobrazovacích metod (interferenční, polarizační, ultrafialová, infračervená a fluorescenční mikroskopie) |
| zdůvodnit použití zobrazovacích metod (interferenční, polarizační, ultrafialová, infračervená a fluorescenční mikroskopie) |
| popsat konstrukci a princip činnosti rastrovacího elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti rastrovacího elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti transmisního elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti transmisního elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti mikroskopie skenující sondou |
| popsat konstrukci a princip činnosti mikroskopie skenující sondou |
| Odborné dovednosti |
|---|
| vybrat vhodnou metodu pro konkrétní vzorek |
| vybrat vhodnou metodu pro konkrétní vzorek |
| navrhnout použití optického mikroskopu |
| navrhnout použití optického mikroskopu |
| navrhnout použití rastrovacího elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití rastrovacího elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití transmisního elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití transmisního elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití mikroskopie skenující sondou |
| navrhnout použití mikroskopie skenující sondou |
| Vyučovací metody |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| Přednášení |
| Přednášení |
| Dialogická (diskuze, rozhovor, brainstorming) |
| Dialogická (diskuze, rozhovor, brainstorming) |
| Odborné dovednosti |
|---|
| Laborování |
| Laborování |
| Praktické procvičování |
| Praktické procvičování |
| Hodnotící metody |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| Didaktický test |
| Didaktický test |
| Ústní zkouška |
| Ústní zkouška |
| Známkou |
| Známkou |
|
Doporučená literatura
|
-
HAWKES P.V., SPENCE, J.C.H. Science of Microscopy. New York: Spriger, 2007. ISBN 978-0-387-25296-4.
-
Kubínek, Roman. Mikroskopie skenující sondou. 1. vyd. V Olomouci : Vydavatelství Univerzity Palackého, 2003. ISBN 80-244-0602-0.
-
Murphy, Douglas B. Fundamentals of light microscopy and electronic imaging. New York : Wiley-Liss, 2001. ISBN 0-471-25391-X.
-
Williams, David Bernard. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. 2nd ed. New York : Springer, 2009. ISBN 978-0-387-76500-6.
|