|
Lecturer(s)
|
-
Mráček Aleš, prof. Mgr. Ph.D.
-
Ponížil Petr, prof. RNDr. Ph.D.
-
Minařík Antonín, doc. Ing. Ph.D.
|
|
Course content
|
- Basic characterization of light microscopy (optical construction, resolution, magnification, depth of field). - Construction of light microscopy and its characterization. - Imaging methods: classical microscopy, streo-microscopy, dark field microscopy, phase contrast microscopy. - Intereference microscopy, polarizing microscopy, ultraviolet microscopy, infrared microscopy and fluorescence microscopy. - Effects of electron interaction with solid matters. - Basic principles of electron microscopy "optics": electro-static and magnetic lenses and its aberration. - Construction and principle of scannig electron microscope. Parameters of imaging (resolution, depth of field, contrast). - Construction and principle of transmission electron microscope. Parameters of imaging (resolution, depth of field, contrast). - Transmission electron microscope and electron diffraction: applications for this method include the identification of lattice defects in crystals. - The samples preparation for electron microscopy (Chemical fixation, Cryofixation-freezing a specimen, Dehydration-freeze drying, Embedding, biological specimens, Embedding (materials), Sectioning (ultramicrotome), Staining, Freeze-fracture or freeze-etch, Ion Beam Milling, Conductive Coating). - Scanning probe microscopy (SPM), basic priciples of these methods, advantages and disadvantages. - Scannig tunnelig microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM). - Microscopy of magnetic force (MFM), near-field scanning optical microscopy (SNOM), etc. Construction and technical prameters of these methods, detectors, probes, moving elements, resolution, etc. Results interpretation, artefacts of measuring, image analysis. - SPM applications and utilization of these methods for characterizations of materials surface and structures.
|
|
Learning activities and teaching methods
|
Lecturing, Dialogic (Discussion, conversation, brainstorming), Simple experiments
- Preparation for examination
- 50 hours per semester
|
| learning outcomes |
|---|
| Knowledge |
|---|
| Student, po absolvování kurzu, má základní znalosti ze všech moderních mikroskopických metod (optická, elektronová, skenovací tunelovací mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, magnetické síly a mikroskopie v blízkém poli). Student je schopen své znalosti prakticky uplatnit. |
| Student, po absolvování kurzu, má základní znalosti ze všech moderních mikroskopických metod (optická, elektronová, skenovací tunelovací mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, magnetické síly a mikroskopie v blízkém poli). Student je schopen své znalosti prakticky uplatnit. |
| popsat části optického mikroskopu a jejich funkci |
| popsat části optického mikroskopu a jejich funkci |
| zdůvodnit použití zobrazovacích metod (interferenční, polarizační, ultrafialová, infračervená a fluorescenční mikroskopie) |
| zdůvodnit použití zobrazovacích metod (interferenční, polarizační, ultrafialová, infračervená a fluorescenční mikroskopie) |
| popsat konstrukci a princip činnosti rastrovacího elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti rastrovacího elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti transmisního elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti transmisního elektronového mikroskopu |
| popsat konstrukci a princip činnosti mikroskopie skenující sondou |
| popsat konstrukci a princip činnosti mikroskopie skenující sondou |
| Skills |
|---|
| vybrat vhodnou metodu pro konkrétní vzorek |
| vybrat vhodnou metodu pro konkrétní vzorek |
| navrhnout použití optického mikroskopu |
| navrhnout použití optického mikroskopu |
| navrhnout použití rastrovacího elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití rastrovacího elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití transmisního elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití transmisního elektronového mikroskopu |
| navrhnout použití mikroskopie skenující sondou |
| navrhnout použití mikroskopie skenující sondou |
| teaching methods |
|---|
| Knowledge |
|---|
| Individual work of students |
| Individual work of students |
| Skills |
|---|
| Individual work of students |
| Individual work of students |
| assessment methods |
|---|
| Knowledge |
|---|
| Oral examination |
| Oral examination |
| Grade (Using a grade system) |
| Grade (Using a grade system) |
|
Recommended literature
|
-
Dawes C.J. Introduction to Biological Electron Microscopy: Theory and Techniques. Vermont, 1988.
-
Kalina T., Pokorný V. Základy elektronové mikroskopie pro biology. Praha, 1981. ISBN skriptum.
-
Kubínek, Roman. Mikroskopie skenující sondou. 1. vyd. V Olomouci : Vydavatelství Univerzity Palackého, 2003. ISBN 80-244-0602-0.
-
Murphy, Douglas B. Fundamentals of light microscopy and electronic imaging. New York : Wiley-Liss, 2001. ISBN 0-471-25391-X.
-
Williams, David Bernard. Transmission electron microscopy : a textbook for materials science. 2nd ed. New York : Springer, 2009. ISBN 978-0-387-76500-6.
|